Neues Rasterelektronenmikroskop zum Jubiläum

Fakultät Grundlagen freut sich über das Großgerät im Wert von 526.000 Euro

Prof. Dr. Renate Hiesgen bei der Einweihung des neuen Rasterelektronenmikroskops. Foto: Hochschule

Bereits seit 40 Jahren arbeitet die Hochschule Esslingen in Lehre und Forschung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM). Zum Jubiläum vor wenigen Tagen weihte die Fakultät Grundlagen jetzt ein neues Rasterelektronenmikroskop ein.

Den Betrag von 526.000 Euro für das neue Großgerät haben das Ministerium für Wissenschaft, Forschung und Kunst und die Hochschule im Rahmen des Programmes „Großgeräte für Länder“ zu gleichen Teilen getragen.

Den erfolgreichen Antrag auf die Neubeschaffung hat das Physiklabor A in der Stadtmitte unter Leitung von Prof. Dr. Renate Hiesgen gestellt, hier wird wie bisher auch das neue REM durch Dr. Jürgen Kraut betrieben.

Detaillierte Bilder von Oberflächen

Ein REM kann im Vergleich zu einem optischen Mikroskop detailliertere Bilder von Oberflächen mit großer Tiefenschärfe liefern, die einen dreidimensionalen Eindruck der Oberflächen vermitteln und bis in den Nanometerbereich abbilden. Das neue Gerät besitzt eine „Feldemissionskathode“, die eine deutlich bessere Auflösung möglich macht und bisher nicht sichtbare Strukturen wie Katalysatorpartikel abbilden kann. Die Verteilung verschiedener Materialien kann jetzt ebenfalls ermittelt werden.

Neues Gerät wird auch in Zusammenarbeit mit Firmen genutzt

„Das neue Rasterelektronenmikroskop findet in der Fakultät Grundlagen vielseitigen Einsatz in Lehre und Forschung“, berichtet Prof. Dr. Hanno Käß. „Studierende können in Projektarbeiten Metalle und Beschichtungen untersuchen und lernen dadurch deren Struktur und Zusammensetzung durch das Mikroskop kennen“, berichtet der stellvertretende Dekan der Fakultät. Auch Prof. Dr. Renate Hiesgen ist begeistert: „Für die Bearbeitung unserer Forschungsprojekte ist die hohe Auflösung des neuen Gerätes ein großer Vorteil.“

Auch in Zusammenarbeit mit regionalen Firmen wird das REM genutzt und somit der Kontakt zwischen Hochschule und Industrie gestärkt. Insbesondere in der Schadensanalytik konnte durch das REM oft die Ursache von versteckten Problemen aufgedeckt werden. Die Bilder geben beispielsweise Aufschluss über Schwachstellen des Materials, die mit herkömmlichen Untersuchungen nicht feststellbar wären.

Das neue REM reagierte so sensibel auf die Störfelder durch die Stromleitungen, dass ein Käfig um das Gerät installiert werden musste, bevor es endgültig in Betrieb genommen werden konnte.